我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統(tǒng)主要用于開發(fā)階段，并且在全球范圍內(nèi)都有需求。
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| 品牌langer MV-Technik | 有效期至長期有效 | 最后更新2020-07-27 19:15 |
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Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究，開發(fā)和生產(chǎn)的最前沿。通過EMC實驗研討會和EMC研討會，我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R。
我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統(tǒng)主要用于開發(fā)階段，并且在全球范圍內(nèi)都有需求。
產(chǎn)品展示
PCB抗擾度
測量系統(tǒng)和EMC工具，用于進(jìn)行組件和設(shè)備的抗擾性測試和分析
PCB發(fā)射
在開發(fā)階段用于組件和設(shè)備排放分析的測量系統(tǒng)和EMC工具
測量和校準(zhǔn)站
測量和校準(zhǔn)站用于校準(zhǔn)EMC測量儀器并確定連接器的EMC參數(shù)。
教學(xué)與培訓(xùn)測量技術(shù)
EMC實驗的模型裝配
IC測量技術(shù)
借助IC（集成電路）測試系統(tǒng)，開發(fā)人員可以在特定干擾（傳導(dǎo)和輻射）或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運(yùn)行中經(jīng)過了測試。
E1是一組EMC工具，用于在開發(fā)階段抑制印刷電路板中的EMI。開發(fā)人員可以使用E1集快速識別突發(fā)和ESD干擾的原因。這使開發(fā)人員可以設(shè)計適當(dāng)?shù)拇胧﹣斫鉀Q干擾的原因。它也可以用來測試所采取措施的有效性。E1測試裝置很小，可輕松安裝在開發(fā)人員的桌子上。E1集用戶手冊介紹了EMC機(jī)制，并詳細(xì)描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測量策略。E1集包括一個發(fā)生器，用于產(chǎn)生突發(fā)和ESD干擾。
供貨范圍
· 1倍SGZ 21，脈沖發(fā)生器
· 1倍BS 02，磁場源
· 1倍BS 04DB，磁場源
· 1倍BS 05D，磁場源
· 1倍BS 05DU，磁場源
· 1倍ES 00，電場源
· 1倍ES 01，電場源
· 1倍ES 02，電場源
· 1倍ES 05D，電場源
· 1倍ES 08D，電場源
· 1倍MS 02，磁場探頭
· 1倍E1 acc，配件
· 1倍NT FRI EU，電源裝置
· 1倍E1案例，系統(tǒng)案例
· 1倍E1 m，E1設(shè)置用戶手冊
P1 set
P23 set
P11t set
P12t set
CAN 100 set
CAN 100 A01 set
LIN 100 set
BD 11
BD 06B
BD 01B
BD 01E
ESA1 set
HFW 21 set
Z23-1 set
Z23-2 set
NNB 21 set
PA 203 SMA套件
PA 303 BNC套件
PA 303 SMA套件
PA 303 N套
PA 306 SMA套
ICS 105
FLS 106 IC
FLS 106 PCB
SUH 106
LF1
MFA-K 0.1-12 set
A100-1 set
XF-R 100-1
迷你突發(fā)場發(fā)生器特別小。它們用于在開發(fā)階段識別和消除電子裝配中的薄弱環(huán)節(jié)。它們會在其尖端產(chǎn)生脈沖串或ESD場。微型脈沖發(fā)生器用手在其被測設(shè)備（例如印刷電路板）上靠近其表面的方向上引導(dǎo)。弱點會響應(yīng)脈沖場，并且會發(fā)生故障。突發(fā)場發(fā)生器可以應(yīng)用于電路板設(shè)計的選定單個部分，以識別潛在的弱點（接地系統(tǒng)中的故障，單個走線或IC引腳）。分開的磁耦合（P11和P12）和電耦合（P21）允許針對相應(yīng)的弱點最佳地調(diào)整EMC對策。
供貨范圍
· 1倍P1機(jī)殼，Mini Burst Field Generators機(jī)殼
· 1倍P1 m，P1設(shè)置用戶手冊
· 朗格langer MV-Technik工具E1
工作日
9:00-18:00
